熱釋光探測(cè)器(TLD)是利用熱致發(fā)光原理測(cè)量核輻射的裝置。熱釋光發(fā)光體作為劑量元件,把接收到的射線的能量?jī)?chǔ)存積累起來(lái),由熱釋光加熱發(fā)光裝置加熱后,劑量元件發(fā)出光,通過(guò)光電倍增管轉(zhuǎn)換成電信號(hào)并輸出顯示。是20世紀(jì)60年代發(fā)展起來(lái)的一種輻射劑量測(cè)量方法。
熱釋光探測(cè)器是利用熱致發(fā)光原理測(cè)量核輻射的裝置。具有晶體結(jié)構(gòu)的某些固體,常含有多種晶格缺陷(如一些原子或離子缺位或加入某些外來(lái)雜質(zhì)等),它們能吸引異性電荷形成“陷阱”。當(dāng)射線照射時(shí),在固體中產(chǎn)生的電子和正離子被其俘獲。檢測(cè)時(shí)加熱固體,則釋放的電子和正離子與固體其他部分的異性電荷復(fù)合并發(fā)光。其發(fā)光光線穿過(guò)并導(dǎo)光電倍增管產(chǎn)生光電流,再經(jīng)直流放大器放大,后通過(guò)記錄器記錄。
熱釋光探測(cè)器的使用注意事項(xiàng):
1、熱釋光劑量片要存放在環(huán)境溫度、干燥(干燥瓶)的環(huán)境條件下保存,避免陽(yáng)光直射、有機(jī)氣氛的影響;
2、熱釋光劑量片退火時(shí)要嚴(yán)格控制退火條件,如有條件應(yīng)采用探測(cè)器退火冷卻爐,以探測(cè)器的性能;
3、退火時(shí),應(yīng)在溫度達(dá)到設(shè)置的溫度后,再將裝有探測(cè)器的托盤(pán)放入退火爐中,放入托盤(pán)后爐溫會(huì)略有下降,當(dāng)其溫度達(dá)到設(shè)置的溫度時(shí)開(kāi)始計(jì)時(shí);
4、熱釋光劑量片從爐中取出后,要放在冷卻板上冷卻(在濕度比較大時(shí),冷卻時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng),以防受潮,一般控制在十幾秒);
5、測(cè)量后應(yīng)將探測(cè)器放在金屬盒里或金屬板上;
6、要用清潔的鑷子輕取探測(cè)器,切勿用手接觸探測(cè)器,以免沾污。對(duì)污染的片狀探測(cè)器(用手觸摸、掉在地板或桌面上)要剔除,切勿用酒精棉球擦洗再用;
7、熱釋光探測(cè)器要用清潔、光滑、不起毛紙包裝;
8、放置熱釋光探測(cè)器的器具要保持清潔,要用清潔的鑷子輕取探測(cè)器,切勿用手接觸探測(cè)器;
9、熱釋光探測(cè)器在照射后和經(jīng)過(guò)熱處理后放在的熱釋光探測(cè)器低本底鉛室或其它低本底鉛室中保存。